梅特勒电子天平XS3DU
编号:mtl013
品牌:梅特勒-托利多
单位:台
重量:9000 克
订购热线:0532-83731536
梅特勒XS3DU电子天平
产品型号:XS3DU
产品介绍:
梅特勒-托利多XS3DU微量天平具有卓越的称量性能,完全满足基础称量应用:在800 mg的精细量程范围内提供1 μg的可读性。具有同类产品中最佳的重复性可低至0.8 μg,是获得理想的称量可靠性的关键,避免不必要的重复测试,显著地降低了样品和时间的浪费。
详细参数:
- XS3DU 双量程
- 最大称量值:3.1 g
- 可读性:0.01 mg
- 最大称量值:0.8 g
- 可读性:0.001 mg
- 重复性(sd) - 加载处:0.006 mg
- - 低加载(加载处):0.005 mg (0.2 g)
- 重复性(sd) - 加载处:0.001 mg
- - 低加载(加载处):0.0008 mg (0.2 g)
- 线性误差:0.004 mg
- 四角误差(加载处)1):0.005 mg (2 g)
- 典型值 4)
- 典型重复性(sd):0.0005 mg +1.2 x (10–7)•R_gr
- 典型微分非线性(sd):√2x(10-12)g·R_nt
- 典型微分四角误差(sd):1.2 x (10–6)•R_nt
- 典型灵敏度偏移(sd)2):3 x (10–6)•R_nt
- 典型最小称量值* (@ U=1 %
- 2 sd):0.1 mg+2.4 x (10–6)•R_gr
- 典型稳定时间:< 6 sec
- 稳定时间:< 10 sec
- 1) 根据OIML R76
- 2) 在10到30°C的温度范围内
- 3) 第一次安装,使用proFACT校准,灵敏度稳定性
- 4) 能用于估计不确定度 sd=标准偏差 Rgr=毛重 Rnt=净重(样品质量) a=年
- * 重复性和最小称量值可以通过以下措施得以改进:- 选择适当的称量参数设置,- 选择合适的天平放置位置,- 使用较小的去皮容器。
详细参数:
- XS3DU 双量程
- 最大称量值:3.1 g
- 可读性:0.01 mg
- 最大称量值:0.8 g
- 可读性:0.001 mg
- 重复性(sd) - 加载处:0.006 mg
- - 低加载(加载处):0.005 mg (0.2 g)
- 重复性(sd) - 加载处:0.001 mg
- - 低加载(加载处):0.0008 mg (0.2 g)
- 线性误差:0.004 mg
- 四角误差(加载处)1):0.005 mg (2 g)
- 典型值 4)
- 典型重复性(sd):0.0005 mg +1.2 x (10–7)•R_gr
- 典型微分非线性(sd):√2x(10-12)g·R_nt
- 典型微分四角误差(sd):1.2 x (10–6)•R_nt
- 典型灵敏度偏移(sd)2):3 x (10–6)•R_nt
- 典型最小称量值* (@ U=1 %
- 2 sd):0.1 mg+2.4 x (10–6)•R_gr
- 典型稳定时间:< 6 sec
- 稳定时间:< 10 sec
- 1) 根据OIML R76
- 2) 在10到30°C的温度范围内
- 3) 第一次安装,使用proFACT校准,灵敏度稳定性
- 4) 能用于估计不确定度 sd=标准偏差 Rgr=毛重 Rnt=净重(样品质量) a=年
- * 重复性和最小称量值可以通过以下措施得以改进:- 选择适当的称量参数设置,- 选择合适的天平放置位置,- 使用较小的去皮容器。